质谱仪是测带电粒子的质量和分析同位素的一种仪器,它的工作原理是带电粒子(不计重力)经同一电场加速后,垂直进入同一匀强磁场做圆周运动,然后利用相关规律计算出带电粒子质量,其工作原理如图所示,虚线为某粒子运动轨迹,由图可知( )
A.此粒子带负电
B.下极板S2比上极板S1电势高
C.若只增大加速电压U的值,则半径r变大
D.若只增大入射粒子的质量,则半径r变大
高二物理选择题简单题
质谱仪是测带电粒子的质量和分析同位素的一种仪器,它的工作原理是带电粒子(不计重力)经同一电场加速后,垂直进入同一匀强磁场做圆周运动,然后利用相关规律计算出带电粒子质量,其工作原理如图所示,虚线为某粒子运动轨迹,由图可知( )
A. 此粒子带负电
B. 下极板S2比上极板S1电势高
C. 若只增大加速电压U的值,则半径r变大
D. 若只增大入射粒子的质量,则半径r变大
高二物理单选题简单题查看答案及解析
质谱仪是测带电粒子的质量和分析同位素的一种仪器,它的工作原理是带电粒子(不计重力)经同一电场加速后,垂直进入同一匀强磁场做圆周运动,然后利用相关规律计算出带电粒子质量,其工作原理如图所示,虚线为某粒子运动轨迹,由图可知( )
A.此粒子带负电
B.下极板比上极板的电势高
C.若只增大加速电压U的值,则半径r变大
D.若只增大入射粒子的质量,则半径r变大
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质谱仪是测带电粒子质量和分析同位素的一种仪器,它的工作原理是带电粒子(不计重力)经同一电场加速后,垂直进入同一匀强磁场做圆周运动,然后利用相关规律计算出带电粒子质量.其工作原理如图所示,虚线为某粒子运动轨迹,由图可知( )
A.此粒子带负电
B.下极板S2比上极板S1电势高
C.若只增大加速电压U,则半径r变大
D.若只增大入射粒子的质量,则半径r变大
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质谱仪是测带电粒子的质量和分析同位素的一种仪器,它的工作原理是带电粒子(不计重力)经同一电场加速后,垂直进入同一匀强磁场做圆周运动,然后利用相关规律计算出带电粒子质量,其工作原理如图所示,虚线为某粒子运动轨迹,由图可知( )
A.此粒子带负电
B.下极板S2比上极板S1电势高
C.若只增大加速电压U的值,则半径r变大
D.若只增大入射粒子的质量,则半径r变大
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质谱仪是测带电粒子的质量和分析同位素的一种仪器,它的工作原理是带电粒子(不计重力)经同一电场加速后;垂直进入同一匀强磁场做圆周运动,然后利用相关规律计算出带电粒子质量,其工作原理如图所示,虚线为离子运动轨迹,由图可知
A. 此粒子带负电
B. 下极板S2比上极扳S1电势髙
C. 若只增大加速电压U的值,则半径r变大
D. 若只增大入射粒子的质量,则半径r变小
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质谱仪是测带电粒子的质量和分析同位素的一种仪器,它的工作原理是带电粒子(不计重力)经同一电场加速后;垂直进入同一匀强磁场做圆周运动,然后利用相关规律计算出带电粒子质量,其工作原理如图所示,虚线为离子运动轨迹,由图可知
A. 此粒子带负电
B. 下极板S2比上极扳S1电势髙
C. 若只增大加速电压U的值,则半径r变大
D. 若只增大入射粒子的质量,则半径r变小
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质谱仪是测带电粒子质量和分析同位素的一种仪器,它的工作原理是带电粒子(不计重力)经同一电场加速后垂直进入同一匀强磁场做圆周运动,然后利用相关规律计算出带电粒子的质量。其工作原理如图所示,虚线为某粒子的运动轨迹,由图可知( )
A.此粒子带负电
B.下极板比上极板电势高
C.若只增大加速电压,则半径变大
D.若只增大入射粒子的质量,则半径变小
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质谱仪是测带电粒子质量和分;析同位素的一种仪器,它的工作原理是带电粒子(不计重力)经同一电场加速后垂直进入同一匀强磁场做圆周运动,然后利用相关规律计算出带电粒子的质量.其工作原理如图所示,虚线为某粒子的运动轨迹,由图可知( )
A.此粒子带负电
B.下极板S1比上极板S2电势高
C.若只增大加速电压U,则半径r变大
D.若只增大入射粒子的质量,则半径r变小
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质谱仪是测带电粒子的质量和分析同位素的一种仪器,它的工作原理是将带电粒子(不计重力)经同一电场加速后,垂直射入同一匀强磁场做圆周运动,然后利用相关规律计算出带电粒子质量,如图所示,虚线为某粒子运动轨迹,则由图可知
A.此粒子带负电
B.下极板S2比上极板S1电势高
C.若只增大加速电压U值,则半径r变大
D.若只增大入射粒子的质量,则半径r变小
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质谱仪是研究同位素的重要仪器,如图所示为质谱仪原理示意图。设粒子质量为m、电荷量为q,从S1无初速度释放进入电场,加速电场电压为U,之后垂直磁场边界进入匀强磁场,磁感应强度为B.(不计粒子重力)则
(1)打在底片上的位置到S3的距离多大?
(2)粒子从进入磁场到打在底片上的时间是多少?
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