某二倍体植物有多对容易区分的相对性状，其中部分性状受相关基因控制的情况如表所示。回答下列问...

某二倍体植物有多对容易区分的相对性状，其中部分性状受相关基因控制的情况如下表。回答下列问题：

（1）基因是有　　　　　 的DNA片段，其遗传信息蕴藏在　　　　　　 之中。基因控制性状的方式之一是通过控制酶的合成来控制___　　　　 _过程，进而控制生物体的性状。

（2）若表中三对等位基因位于三对常染色体上，则基因型为AaBbDd与基因型为aabbdd的两植株杂交，子代中窄叶植株所占的比例为　　　　　　 ，子代中红花窄叶细茎植株所占的比例为　　　　　　　　　 。

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(14分)某二倍体植物有多对容易区分的相对性状，其中部分性状受相关基因控制的情况如下表。回答下列问题：

(1)基因是有　　　　　　　　　　　　 的DNA片段，其遗传信息蕴藏在　　　　　　　　 之中。基罔控制性状的方式之一是通过控制酶的合成来控制　　　　　　　　　　　　　　 过程，进而控制生物体的性状。

(2)若表中三对等位基因分别位于三对常染色体上，则基因型为AaBbDd与aabbdd的两植株杂交，子代中窄叶植株占的比例为　　　　　　　　　　 ，子代中红花窄叶细茎植株占的比例为　　　　　　　　　　　　 。

(3)若某植株体细胞的三对基因在染色体上的分布如右图所示。如果该植株形成配子时，部分四分体中相邻的两条非姐妹染色单体之间，基因D与d所在片段发生过交叉互换，则该植株可形成　　　　　　　　 种基因型的配子；如果该植株形成配子时没有发生交叉互换，则该植株自交产生的红花窄叶子代中纯合子占的比例为　　　　　　　　　　　　　　　 。

(4)已知用电离辐射处理该植物的幼苗，能使A、a基因所在的染色体片段从原染色体随机断裂，然后随机结合在B、b所在染色体的末端，形成末端易位，但仅有一条染色体发生这种易位的植株高度不育。现将一基用型如上图所示的植株在幼苗时期用电离辐射处理，欲判定该植株是否发生易位及易位的类型，可通过观察该植株自交后代的表现型进行判晰。（注：仅研究花色和叶形两对性状，不考虑交叉互换）①若出现　　　　　　　　　 种表现型的子代，则该植株没有发生染色体易位；②若　　　　　　　　　　　　　　 ，则该植株仅有一条染色体发生末端易位；③若子代表现型及比例为　　　　　　　　　　　　　　 ，则A、a所在染色体片段均发生了易位，且A基因连在b基因所在的染色体上，a基因连在B基因所在的染色体上。

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某自花受粉的二倍体植物（2n＝10）有多对容易区分的相对性状，部分性状受相关基因控制的情况如下表。D、d 与 B、b 两对等位基因在染色体上的位置如图所示。请回答下列问题：

（1）如果要测定该植物的基因组，应该测定_______条染色体上的_________（填“基因”或“DNA”） 序列。

（2）若表中三对等位基因分别位于三对常染色体上，在减数分裂形成配子时遵循_____定律。基因型为 AaBbDd 与 aabbdd 的两个植株杂交，子代中红花窄叶细茎植株占的比例为___________。

（3）已知电离辐射能使 D、d 基因所在的染色体片段发生断裂，分别随机结合在B、b所在染色体的末端，形成末端易位。仅一条染色体发生这种易位的植株将高度不育，现将上图基因型为 BbDd 的植株在幼苗时期用电离辐射处理，欲判定该植株是否发生易位及易位的类型，通过观察该植株自交后代的表现型及比例进行判断。（注：不考虑基因突变和交叉互换）

①若出现_________种表现型的子代，则该植株没有发生染色体易位；

②若__________，则该植株仅有一条染色体发生末端易位；

③若 D、d 所在染色体片段均发生了易位，且 d 基因连在 b 基因所在的染色体上，D 基因连在 B 基因所在的染色体上，则后代的表现型及比例为窄叶粗茎：窄叶中粗茎：宽叶细茎=_______________。

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某自花受粉的二倍体植物(2n＝10)有多对容易区分的相对性状，部分性状受相关基因控制的情况如下表。D、d与B、b两对等位基因在染色体上的位置如图所示。请回答下列问题：

（1）如果要测定该植物的基因组，应该测定_________条染色体上的DNA序列。

（2）若表中三对等位基因分别位于三对染色体上，在减数分裂形成配子时遵循_______________定律。基因型为AaBbDd与aaBbdd的两个植株杂交，子代中红花窄叶细茎植株占的比例为__________。

（3）已知电离辐射能使D、d基因所在的染色体片段发生断裂，分别随机结合在B、b所在染色体的末端，形成末端易位。仅一条染色体发生这种易位的植株将高度不育。现将左图基因型为BbDd的植株在幼苗时期用电离辐射处理，欲判定该植株是否发生易位及易位的类型，通过观察该植株自交后代出现的情况进行判断 (注：不考虑基因突变和交叉互换)。

①若出现__________________种表现型的子代，则该植株没有发生染色体易位。

②若______________________，则该植株仅有一条染色体发生末端易位。

③若D、d所在染色体片段均发生了易位，且d基因连在b基因所在的染色体上，D基因连在B基因所在的染色体上，则后代的表现型及比例为：________________________________。

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某自花受粉的二倍体植物(2n＝10)有多对容易区分的相对性状，部分性状受相关基因控制的情况如下表。D、d与B、b两对等位基因在染色体上的位置如图所示。请回答下列问题：

（1）如果要测定该植物的基因组，应该测定_________条染色体上的DNA序列。

（2）若表中三对等位基因分别位于三对染色体上，在减数分裂形成配子时遵循_______________定律。基因型为AaBbDd与aaBbdd的两个植株杂交，子代中红花窄叶细茎植株占的比例为__________。

（3）已知电离辐射能使D、d基因所在的染色体片段发生断裂，分别随机结合在B、b所在染色体的末端，形成末端易位。仅一条染色体发生这种易位的植株将高度不育。现将左图基因型为BbDd的植株在幼苗时期用电离辐射处理，欲判定该植株是否发生易位及易位的类型，通过观察该植株自交后代出现的情况进行判断 (注：不考虑基因突变和交叉互换)。

①若出现__________________种表现型的子代，则该植株没有发生染色体易位。

②若______________________，则该植株仅有一条染色体发生末端易位。

③若D、d所在染色体片段均发生了易位，且d基因连在b基因所在的染色体上，D基因连在B基因所在的染色体上，则后代的表现型及比例为：________________________________。

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某自花受粉的二倍体植物(2n＝10)有多对容易区分的相对性状，部分性状受相关基因控制的情况如下表。D、d与B、b两对等位基因在染色体上的位置如图所示。请回答下列问题：

（1）如果要测定该植物的基因组，应该测定_______条染色体上的_______(填“基因”或“DNA”)序列。

（2）若表中三对等位基因分别位于三对常染色体上，在减数分裂形成配子时遵循__________定律。基因型为AaBbDd与aabbdd的两个植株杂交，子代中红花窄叶细茎植株占的比例为_________。

（3）已知电离辐射能使D、d基因所在的染色体片段发生断裂，分别随机结合在B、b所在染色体的末端，形成末端易位。仅一条染色体发生这种易位的植株将高度不育，现将左图基因型为BbDd的植株在幼苗时期用电离辐射处理，欲判定该植株是否发生易位及易位的类型，通过观察该植株自交后代的表现型及比例进行判断。(注：不考虑基因突变和交叉互换)

①若出现__________种表现型的子代，则该植株没有发生染色体易位；

②若_______________，则该植株仅有一条染色体发生末端易位；

③若D、d所在染色体片段均发生了易位，且d基因连在b基因所在的染色体上，D基因连在B基因所在的染色体上，则后代的表现型及比例为：___________________________。

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某自花受粉的二倍体植物(2n＝10)有多对容易区分的相对性状，部分性状受相关基因控制的情况如下表。D、d与B、b两对等位基因在染色体上的位置如图所示。请回答下列问题：

（1）如果要测定该植物的基因组，应该测定_______条染色体上的_______(填“基因”或“DNA”)序列。

（2）若表中三对等位基因分别位于三对常染色体上，在减数分裂形成配子时遵循__________定律。基因型为AaBbDd与aabbdd的两个植株杂交，子代中红花窄叶细茎植株占的比例为_________。

（3）已知电离辐射能使D、d基因所在的染色体片段发生断裂，分别随机结合在B、b所在染色体的末端，形成末端易位。仅一条染色体发生这种易位的植株将高度不育，现将左图基因型为BbDd的植株在幼苗时期用电离辐射处理，欲判定该植株是否发生易位及易位的类型，通过观察该植株自交后代的表现型及比例进行判断。(注：不考虑基因突变和交叉互换)

①若出现__________种表现型的子代，则该植株没有发生染色体易位；

②若_______________，则该植株仅有一条染色体发生末端易位；

③若D、d所在染色体片段均发生了易位，且d基因连在b基因所在的染色体上，D基因连在B基因所在的染色体上，则后代的表现型及比例为：___________________________。

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某自花授粉的二倍体植物有多对容易区分的相对性状，部分性状受相关基因控制的情况如下表。D、d与B、b两对等位基因在染色体上的位置如下图所示。请回答下列问题：

（1）该植物中的基因是一段____________DNA分子片段。

（2）若表中三对等位基因分别位于三对常染色体上，在减数分裂形成配子时遵循____________定律。基因型为AaBbDd与aabbdd的两个植株杂交，子代中红花窄叶细茎植株占的比例为____________。

（3）已知电离辐射能使D、d基因所在的染色体片段发生断裂，分别随机结合在B、b所在染色体的末端，形成末端易位。仅一条染色体发生这种易位的植株将高度不育。现将右上图基因型为BbDd的植株在幼苗时期用电离辐射处理，欲判定该植株是否发生易位及易位的类型，通过观察该植株自交后代的表现型及比例进行判断（注：不考虑基因突变和片段交换。）

①出现________________________种表现型的子代，则该植株没有发生染色体易位；

②若________________________，则该植株仅有一条染色体发生末端易位。

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某自花授粉的二倍体植物有多对容易区分的相对性状，部分性状受相关基因控制的情

况如下表。D、d与B、b两对等位基因在染色体上的位置如右下图所示。

请回答下列问题：

（1）该植物中的基因是一段包含一个完整的__________单位的有功能的DNA分子片段。

（2）若表中三对等位基因分别位于三对常染色体上，在减数分裂形成配子时遵循________定律。基因型为AaBbDd与aabbdd的两个植株杂交，子代中红花窄叶细茎植株占的比例为_________。

（3）已知电离辐射能使D、d基因所在的染色体片段发生断裂，分别随机结合在B、b所在染色体的末端，形成末端易位。仅一条染色体发生这种易位的植株将高度不育。现将右上图基因型为BbDd的植株在幼苗时期用电离辐射处理，欲判定该植株是否发生易位及易位的类型，通过观察该植株自交后代的表现型及比例进行判断。（注：不考虑基因突变和片段交换）

①若出现_______种表现型的子代，则该植株没有发生染色体易位；

②若____________________，则该植株仅有一条染色体发生末端易位；

③若D、d所在染色体片段均发生了易位，且D基因连在b基因所在的染色体上，d基因

连在B基因所在的染色体上，请用遗传图解表示该植株自交产生子代的过程（要求写出配子）。_______

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某自花授粉的二倍体植物有多对容易区分的相对性状，部分性状受相关基因控制的情况如下表。D、d与B、b两对等位基因在染色体上的位置如右下图所示。

请回答下列问题：

（1）该植物中的基因是一段_____________________DNA分子片段。

（2）若表中三对等位基因分别位于三对常染色体上，在减数分裂形成配子时遵循___________定律。基因型为AaBbDd与aabbdd的两个植株杂交，子代中红花窄叶细茎植株占的比例为___________。

（3）已知电离辐射能使D、d基因所在的染色体片段发生断裂，分别随机结合在B、b所在染色体的末端，形成末端易位。仅一条染色体发生这种易位的植株将不能产生可育配子。

现将上图基因型为BbDd的植株在幼苗时期用电离辐射处理，欲判定该植株是否发生易位及易位的类型，通过观察该植株自交后代的表现型及比例进行判断。（注：不考虑基因突变和片段交换）

①若出现________种表现型的子代，则该植株没有发生染色体易位；

②若___________________，则该植株仅有一条染色体发生末端易位；

③若D、d所在染色体片段均发生了易位，且D基因连在b基因所在的染色体上，d基因连在B基因所在的染色体上，且能产生可育配子，该植株自交产生子代的表现型及比例_________________。

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