质谱仪的构造如图所示,离子从离子源出来经过板间电压为U的加速电场后进人磁感应强度为B的匀强磁场中,沿着半圆周运动而达到记录它的照相底片上,测得图中PQ的距离为L,则该粒子的荷质比为多大?
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质谱仪的构造如图所示,离子从离子源出来经过板间电压为U的加速电场后进人磁感应强度为B的匀强磁场中,沿着半圆周运动而达到记录它的照相底片上,测得图中PQ的距离为L,则该粒子的荷质比为多大?
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质谱仪的构造原理如图所示.从粒子源S出来时的粒子速度很小,可以看作初速度为零,粒子经过电场加速后进入有界的垂直纸面向里的匀强磁场区域,并沿着半圆周运动而达到照相底片上的P点,测得P点到入口的距离为x,则以下说法正确的是( )
A. 粒子一定带正电
B. 粒子一定带负电
C. x越大,则粒子的质量与电量之比一定越大
D. x越大,则粒子的质量与电量之比一定越小
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质谱仪的构造原理如图所示.从粒子源S出来时的粒子速度很小,可以看作初速度为零,粒子经过电场加速后进入有界的垂直纸面向里的匀强磁场区域,并沿着半圆周运动而达到照相底片上的P点,测得P点到入口的距离为x,则以下说法正确的是( )
A. 粒子一定带正电
B. 粒子一定带负电
C. x越大,则粒子的质量与电量之比一定越大
D. x越大,则粒子的质量与电量之比一定越小
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质谱议的构造原理如图所示.从粒子源S出来时的粒子速度很小,可以看作初速为零,粒子经过电场加速后进入有界的垂直纸面向里的匀强磁场区域,并沿着半圆周运动而达到照相底片上的P点,测得P点到入口的距离为x,则以下说法正确的是
A.粒子一定带正电
B.粒子一定带负电
C.x越大,则粒子的质量与电量之比一定越大
D.x越大,则粒子的质量与电量之比一定越小
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现代质谱仪可用来分析比质子重很多倍的离子,其示意图如图所示。从粒子源O出来时的粒子速度很小,可以看作初速为零,粒子经过电场加速后进入有界的垂直纸面向外的匀强磁场区域,并沿着半圆周运动而达到出口,设入口和出口间的距离为x,则
A. 粒子一定带正电 B. 粒子一定带负电
C. x越大,则粒子的质量与电量之比一定越大 D. x越大,则粒子的质量与电量之比一定越小
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质谱仪是一种测定带电粒子质量和分析同位素的重要工具,它的构造如图所示。设离子源S产生离子,离子产生出来时速度很小,可以看作速度为零。产生的离子经过电压为U的电场加速后(图中未画出),进入一平行板电容器C中,电场E和磁场B1相互垂直,具有某一速度的离子将沿图中虚直线穿过两板间的空间而不发生偏转,而具有其他速度的离子发生偏转。最后离子再进入磁感应强度为B2的匀强磁场,沿着半圆周运动,到达记录它的照相底片上的P点,根据以上材料回答下列问题:
(1)证明能穿过平行板电容器C的离子具有的速度为v=E/B1
(2)若测到P点到入口S1的距离为x ,证明离子的质量m=qB22x2/8U
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如图所示是质谱仪的工作原理示意图。加速电场的电压为U,速度选择器中的电场强度为E,磁感应强度为B1,偏转磁场的磁感应强度为B2,一电荷量为q的带正电的粒子在加速电场中加速后进入速度选择器,刚好能从速度选择器进入偏转磁场做圆周运动,测得圆的直径为d,照相板上有记录粒子位置的胶片。下列表述正确的是( )
A. 质谱仪是分析同位素的重要工具
B. 粒子在速度选择器中做匀加速直线运动
C. 所有粒子进入偏转磁场时的速度相同
D. 粒子质量为
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如图所示为质谱仪的原理图,A为粒子加速器,电压为;B为速度选择器,磁场与电场正交,磁感应强度为
,板间距离为d;C为偏转分离器,磁感应强度为
,今有一质量为m、电荷量为q的正离子经过加速后,恰好通过速度选择器,进入分离器后做半径为R的匀速圆周运动,求:
(1)粒子的速度v
(2)速度选择器的电压
(3)粒子在磁场中做匀速圆周运动的半径R
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