现代科学仪器常利用电场、磁场控制带电粒子的运动,某装置可用于气体中某些有害离子进行收集,如图1所示。Ⅰ区为加速区,Ⅱ区为离子收集区,其原理是通过板间的电场或磁场使离子偏转并吸附到极板上,达到收集的目的。已知金属极板CE、DF长均为d,间距也为d,AB、CD间的电势差为U,假设质量为m、电荷量为q的大量正离子在AB极均匀分布。离子由静止开始加速进入收集Ⅱ区域,Ⅱ区域板间有匀强电场和垂直于纸面向里的匀强磁场,离子恰好沿直线通过Ⅱ区域;且只撤去电场时,恰好无离子从Ⅱ区域间射出,收集效率(打在极板上的离子占离子总数的百分比)为100%,(不考虑离子间的相互作用力、重力和极板边缘效应)。
(1)求离子到达Ⅱ区域速度大小;
(2)求Ⅱ区域磁感应强度B的大小
(3)若撤去Ⅱ区域磁场,只保留原来的电场,则装置的收集效率是多少?
(4)现撤去Ⅱ区域的电场,保留磁场但磁感应强度大小可调。假设AB极上有两种正离子,质量分别为m1、m2,且m1≤4m2,电荷量均为q1。现将两种离子完全分离,同时收集更多的离子,需在CD边上放置一探测板CP(离子必须打在探测板上),如图2所示。在探测板下端留有狭缝PD,离子只能通过狭缝进入磁场进行分离,试求狭缝PD宽度的最大值。
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现代科学仪器常利用电场、磁场控制带电粒子的运动,某装置可用于气体中某些有害离子进行收集,如图1所示。Ⅰ区为加速区,Ⅱ区为离子收集区,其原理是通过板间的电场或磁场使离子偏转并吸附到极板上,达到收集的目的。已知金属极板CE、DF长均为d,间距也为d,AB、CD间的电势差为U,假设质量为m、电荷量为q的大量正离子在AB极均匀分布。离子由静止开始加速进入收集Ⅱ区域,Ⅱ区域板间有匀强电场和垂直于纸面向里的匀强磁场,离子恰好沿直线通过Ⅱ区域;且只撤去电场时,恰好无离子从Ⅱ区域间射出,收集效率(打在极板上的离子占离子总数的百分比)为100%,(不考虑离子间的相互作用力、重力和极板边缘效应)。
(1)求离子到达Ⅱ区域速度大小;
(2)求Ⅱ区域磁感应强度B的大小
(3)若撤去Ⅱ区域磁场,只保留原来的电场,则装置的收集效率是多少?
(4)现撤去Ⅱ区域的电场,保留磁场但磁感应强度大小可调。假设AB极上有两种正离子,质量分别为m1、m2,且m1≤4m2,电荷量均为q1。现将两种离子完全分离,同时收集更多的离子,需在CD边上放置一探测板CP(离子必须打在探测板上),如图2所示。在探测板下端留有狭缝PD,离子只能通过狭缝进入磁场进行分离,试求狭缝PD宽度的最大值。
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在科学研究中常用电场和磁场来控制带电粒子的运动,如图甲所示是一种电荷扩束装置,它由粒子源、加速电场、扩束电场组成。其工作原理可简化为如下过程:粒子源产生的同种带正电粒子(粒子重力忽略不计)经加速电场加速后,以速度v0连续不断地沿平行于平行金属板A和B的方向从两极板正中央射入匀强扩束电场。 已知金属板长为L,相距为d.
(1)当两板间电压U1=U0时,粒子恰好打在下极板B的中点.求带电粒子的比荷;
(2)若AB间加如图乙所示的方波形电压,其周期,从t=0开始,前内UAB=,后内UAB=,上述粒子仍然以速度v0沿原来方向持续射入电场,求射出电场时粒子束的宽度D;
(3)若紧贴极板右侧建立xOy坐标系,O点为极板右侧的中点,在坐标系的第I、IV象限某区域内存在一个圆形的匀强磁场区域,磁场方向垂直于xOy坐标平面,要使从最下方射出的粒子经磁场偏转后经过坐标为(2d,2d)的P点出磁场,求磁感应强度B的最大值.
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质谱仪是测带电粒子的质量和分析同位素的一种仪器,它的工作原理是带电粒子(不计重力)经同一电场加速后;垂直进入同一匀强磁场做圆周运动,然后利用相关规律计算出带电粒子质量,其工作原理如图所示,虚线为离子运动轨迹,由图可知
A. 此粒子带负电
B. 下极板S2比上极扳S1电势髙
C. 若只增大加速电压U的值,则半径r变大
D. 若只增大入射粒子的质量,则半径r变小
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质谱仪是测带电粒子的质量和分析同位素的一种仪器,它的工作原理是带电粒子(不计重力)经同一电场加速后;垂直进入同一匀强磁场做圆周运动,然后利用相关规律计算出带电粒子质量,其工作原理如图所示,虚线为离子运动轨迹,由图可知
A. 此粒子带负电
B. 下极板S2比上极扳S1电势髙
C. 若只增大加速电压U的值,则半径r变大
D. 若只增大入射粒子的质量,则半径r变小
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质谱仪是测带电粒子的质量和分析同位素的一种仪器,它的工作原理是将带电粒子(不计重力)经同一电场加速后,垂直射入同一匀强磁场做圆周运动,然后利用相关规律计算出带电粒子质量,如图所示,虚线为某粒子运动轨迹,则由图可知
A.此粒子带负电
B.下极板S2比上极板S1电势高
C.若只增大加速电压U值,则半径r变大
D.若只增大入射粒子的质量,则半径r变小
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质谱仪是测带电粒子的质量和分析同位素的一种仪器,它的工作原理是带电粒子(不计重力)经同一电场加速后,垂直进入同一匀强磁场做圆周运动,然后利用相关规律计算出带电粒子质量,其工作原理如图所示,虚线为某粒子运动轨迹,由图可知( )
A. 此粒子带负电
B. 下极板S2比上极板S1电势高
C. 若只增大加速电压U的值,则半径r变大
D. 若只增大入射粒子的质量,则半径r变大
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质谱仪是测带电粒子的质量和分析同位素的一种仪器,它的工作原理是带电粒子(不计重力)经同一电场加速后,垂直进入同一匀强磁场做圆周运动,然后利用相关规律计算出带电粒子质量,其工作原理如图所示,虚线为某粒子运动轨迹,由图可知( )
A.此粒子带负电
B.下极板比上极板的电势高
C.若只增大加速电压U的值,则半径r变大
D.若只增大入射粒子的质量,则半径r变大
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质谱仪是测带电粒子质量和分析同位素的一种仪器,它的工作原理是带电粒子(不计重力)经同一电场加速后,垂直进入同一匀强磁场做圆周运动,然后利用相关规律计算出带电粒子质量.其工作原理如图所示,虚线为某粒子运动轨迹,由图可知( )
A.此粒子带负电
B.下极板S2比上极板S1电势高
C.若只增大加速电压U,则半径r变大
D.若只增大入射粒子的质量,则半径r变大
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质谱仪是测带电粒子的质量和分析同位素的一种仪器,它的工作原理是带电粒子(不计重力)经同一电场加速后,垂直进入同一匀强磁场做圆周运动,然后利用相关规律计算出带电粒子质量,其工作原理如图所示,虚线为某粒子运动轨迹,由图可知( )
A.此粒子带负电
B.下极板S2比上极板S1电势高
C.若只增大加速电压U的值,则半径r变大
D.若只增大入射粒子的质量,则半径r变大
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质谱仪是测带电粒子质量和分析同位素的一种仪器,它的工作原理是带电粒子(不计重力)经同一电场加速后垂直进入同一匀强磁场做圆周运动,然后利用相关规律计算出带电粒子的质量。其工作原理如图所示,虚线为某粒子的运动轨迹,由图可知( )
A.此粒子带负电
B.下极板比上极板电势高
C.若只增大加速电压,则半径变大
D.若只增大入射粒子的质量,则半径变小
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